熱および真空条件下での波面試験

過酷な条件下でも最高の光学計測ツール

最先端の航空宇宙および防衛光学機器は、現場の条件でテストする必要があります。これには、乱流、振動、極低温凍結、真空条件などが含まれる場合があります。Phasicsの特許取得済みのQWLSIテクノロジーは、設計上、 非常にコンパクトで、振動の影響を受けません。これに何年にもわたる特定の開発を加えて、Phasicsは過酷な環境で要求の厳しい性能を満たすデバイスを提案します。

▽TVACテスト中のその場波面認定

Phasics SID4-Vは、真空チャンバー内で直接波面測定を実行できる唯一の高解像度の真空互換波面センサーです。R-Cube照明モジュールと組み合わせると、当社の波面センサーは、ダブルパスまたはシングルパス構成の宇宙システムの現場認定に最適です

▽TVACテスト中の波面認定

同様の設定は、光学テスト機器を真空チャンバーの外側に配置することで実現できます。

測定例

　　

圧力降下後の波面の変化　　　　　　　温度サイクル中の波面の変化　　　　　　圧力降下時のSID4-V認定　

利点

強力な独自技術

• 真の無彩色
• 大きなダイナミクス
• 複数波長テスト

独自の機能

• 真空の互換性
• スモールフォームファクタ
• 振動に敏感ではありません

柔軟なセットアップ

• 軸上および軸外の表面および伝達
• 統合が簡単 
• UVからLWIRまで幅広い

R-CUBEダブルパス照明モジュール - 仕様書　　PDF     ご請求下さい。
パンフレット - 光学計測ソリューション　　PDF     ご請求下さい。

 

関連製品

R-Cube照明モジュール

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）VIS（400-750 nm）SWIR（900-1700 nm）MWIR（3-5μm）LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
R-Cubeは、Phasicsの波面センサーを使用して簡単にダブルパス測定を行うためのアドオンです。ミラーおよび大レンズ収差測定に適用され、光学テストシステムまたは補償光学の小型望遠鏡のキャリブレーションに役立ちます。この照明ユニットは、波面センサーに接続するだけで、非常に高品質のコリメートビームを提供します。ダブルパスでの波面測定が簡単かつ正確になります。
 

SID4-V

スペクトル範囲 VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）
光学計測　レーザー測定
SID4-Vは、市場で最初の既製の真空互換波面センサーであり、高エネルギーレーザー施設の補償光学の新たな地平を開きます。実際の実験条件で波面をその場で測定し、コンプレッサー容器内のレーザービームを特性評価し、ターゲットの隣のガスジェットとプラズマ密度を測定します！Phasics独自の戦略により、真空チャンバー内の目標位置までのすべての光学素子の収差を補正することが可能になりました。SID4-Vは、環境テストキャンペーン中に波面測定を実行するためにも使用できます。
 

SID4-HR

スペクトル範囲 VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）
材料検査　光学計測　レーザー測定
SID4-HRは、最も要求の厳しい波面測定アプリケーションに超高位相サンプリング（400 x 300）と高ダイナミックレンジ（500 µm PV）をもたらします。その大口径と極端な波面感度により、リレー光学系を使用せずに大きな発散ビームを直接測定するのに最適です。
 

SID4-UV-HR

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）
光学計測　レーザー測定
Phasicsの特許技術に基づいて、SID4 UV-HR波面センサーは、190 nm〜400 nmの紫外線スペクトルで比類のない高解像度（355x280測定ポイント）と非常に高い感度（1 nm RMS）の両方を提供します。その結果、SID4 UV-HRは、光学部品の特性評価（リソグラフィ、半導体などで使用）および表面検査（レンズおよびウェーハなど）に完全に適合します。
 

SID4-SWIR-HR

スペクトル範囲 SWIR（900〜1700 nm）
光学計測　レーザー測定
SID4-SWIR-HR波面センサーは、Phasicsの特許技術をInGaAs検出器と結合します。超高空間分解能（160 x 128位相ピクセル）と高感度のおかげで、900 nmから1.7µmまでの正確な波面測定を提供します。SID4-SWIR-HRは、軍事および監視デバイスの光通信、検査機器、または暗視装置で使用されるSWIR光学システムをテストするための革新的なソリューションです。
 

SID4-eSWIR

スペクトル範囲 SWIR（900〜1700 nm）
光学計測　レーザー測定
SID4-eSWIR波面センサーは、Phasicsの特許技術をT2SL検出器と結合し、1.0〜2.35 µmの拡張SWIR範囲をカバーする唯一の高解像度波面センサーです。SID4-eSWIRは、光通信、検査機器、または軍事および監視デバイスの暗視装置で使用されるSWIRソースとレンズをテストするための革新的なソリューションです。
 

SID4-DWIR

スペクトル範囲 MWIR（3-5μm）LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
SID4-DWIRは、3〜5 µmおよび8〜14 µmのデュアルバンド赤外線用の最初の既製の高解像度波面センサーです。これは、IR光学系、黒体光源、3.39 µmまたは10.6 µmのレーザービーム、およびシステムの特性評価に適しています。
 

SID4-LWIR

スペクトル範囲 LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
SID4-LWIRは、CO₂またはOPOレーザービーム計測用の長波赤外線領域（8μmから14μm）に高解像度の波面センシングをもたらし、熱画像、セキュリティ、安全ビジョンで使用されるIRコンポーネントとレンズの特性評価を行います。
 

カスタム光学テストベンチ

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）SWIR（900-1700 nm）MWIR（3-5μm）LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
挑戦的なプロジェクトには、カスタムメイドの波面計測ソリューションが必要になる場合があります。Phasicsチームは、クライアントのプロジェクト要件に応じて組み込まれた、カスタマイズされた光学テストベンチとマシンを開発します。Phasicsの高度なスキルを持つ光学、機械、電気、ソフトウェアエンジニア、およびPhDの強力なチームは、最も困難な波面計測の課題に取り組む準備ができています。