レーザーシステムの調整

SID4波面センサーの使いやすさを活用して、光学システムの調整をマスターします

SID4波面センサーは、光学システムの位置合わせを実行するために多くの利点をもたらします。
SID4の範囲は、UV、可視、NIR、SWIR、MWIR、およびLWIRの幅広い波長スペクトルのセットをカバーしています。
第二に、SID4はコンパクトで位置合わせが簡単なため、測定を簡単に行うことができます。
最後に、高解像度、広いダイナミックレンジ、およびナノメートルの感度により、正確で堅牢な波面認定が保証されます。
Phasics SID4波面センサーは、エンジニア、研究者、製造業者に、研究開発および生産環境での光学システムの調整と認定に最適なソリューションを提供します。 

▽光学系コリメーション

光学システムのコリメーションの場合、SID4ソフトウェアで、焦点ぼけゼルニケ項、ビームの発散、曲率半径を監視するのは簡単です。

▽シングルパスでのアフォーカル望遠鏡の位置合わせ

波面ゼルニケまたはルジャンドル多項式のライブ計算を使用して、焦点望遠鏡の配置を細かく最適化することができます。測定は、R-Cube自己照明光源モジュールを使用して、シングルパスまたはダブルパス（次の図を参照）構成で実行できます。

▽ダブルパスでのアフォーカル望遠鏡の位置合わせ

ダブルパス構成での望遠鏡の位置合わせ。

▽軸外放物線配置

リレーレンズなしで発散ビームを測定するSID4の独自の機能と波面収差のライブ計算のおかげで、SID4は、軸外放物線などの複雑なコンポーネントの位置合わせを容易にするツールとして使用できます。

                                                       

測定例

　　

波面収差　　　　　　　　　　　　　　ゼルニケ多項式とルジャンドル多項式　　　ビームパラメータ、MTFおよびPSF

利点

ライブ測定

• ライブ強度と波面
• ライブゼルニケとルジャンドル
• ライブパラメータ、PSF、MTF、傾斜

柔軟性

• コンパクト
• 調整が簡単
• 大きなNAビームで動作します

最先端の波面センサー

• 高解像度
• 大きなダイナミクス
• 無彩色

R-CUBE バブルパス証明モジュール　　PDF      ご請求下さい。
パンフレッド - レーザーテストおよび補償光学ソリューション　　PDF    ご請求下さい。

関連製品

SID4-HR　費用効果の高い　高解像度の波面センサー

スペクトル範囲 VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）
材料検査　光学計測　レーザー測定
可視およびNIR範囲をカバーするエントリーレベルでありながら高解像度の波面センサーであるSID4は、あらゆるレーザーまたは光学計測アプリケーションに最適な多用途ツールです。
 

R-Cube照明モジュール　ダブルパス構成用の照明ソース

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）VIS（400-750 nm）SWIR（900-1700 nm）MWIR（3-5μm）LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
R-Cubeは、Phasicsの波面センサーを使用して簡単にダブルパス測定を行うためのアドオンです。ミラーおよび大レンズ収差測定に適用され、光学テストシステムまたは補償光学の小型望遠鏡のキャリブレーションに役立ちます。この照明ユニットは、波面センサーに接続するだけで、非常に高品質のコリメートビームを提供します。ダブルパスでの波面測定が簡単かつ正確になります。
 

SID4-SWIR　費用効果の高い　短波長IR波面センサー

スペクトル範囲 SWIR（900〜1700 nm）
光学計測　レーザー測定
SID4-SWIR波面センサーは、Phasicsの特許技術をInGaAs検出器と接続します。その高い空間分解能（80 x 64位相ピクセル）と高感度のおかげで、900nmから1.7μmまでの正確な波面測定を提供します。SID4-SWIRは、軍事および監視デバイスの光通信、検査機器、または暗視装置で使用されるSWIR光学システムをテストするための革新的なソリューションです。

 

Kaleo MTF ステーション　レンズの光学品質認定のための自動テストステーション

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）VIS（400-750 nm）SWIR（900-1700 nm）
光学計測
Kaleo MTF機器は、設計、プロトタイピング、または製造段階でレンズのセットを測定するのに理想的です。これは、最も完全なレンズ特性評価を提供します：軸上および軸外MTF、放射測定、および複数の波長での波面誤差。Kaleo MTFの測定精度は、CRAとFOVが高くても変化しません。

 

Kaleo MultiWAVE　任意の波長での費用効果の高い動的干渉計　

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）SWIR（900-1700 nm）
光学計測
Phasicsは、透過波面誤差と反射波面誤差（TWE / RWE）の両方を測定できる新しい機器を使用して、光学計測を革新しています。コーティングされた光学部品とコーティングされていない光学部品は、動作波長で直径5.1インチ（130 mm）にわたって認定できます。Kaleo MultiWAVEは、複数の干渉計を購入するための有利な代替手段であり、費用効果の高いソリューションです。このシステムは、フィゾー干渉計に匹敵する測定精度を提供します。

 

SID4-UV-HR　190nmまで感度の高いUV波面センサー

スペクトル範囲 UV（190-400 nm）
光学計測　レーザー測定
Phasicsの特許技術に基づいて、SID4 UV-HR波面センサーは、190 nm〜400 nmの紫外線スペクトルで比類のない高解像度（355x280測定ポイント）と非常に高い感度（1 nm RMS）の両方を提供します。その結果、SID4 UV-HRは、光学部品の特性評価（リソグラフィ、半導体などで使用）および表面検査（レンズおよびウェーハなど）に完全に適合します。

 

SID4-DWIR　3~5μｍおよび8~14μｍバンド用のデュアルバンド波面センサー

スペクトル範囲 MWIR（3-5μm）LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
SID4-DWIRは、3〜5 µmおよび8〜14 µmのデュアルバンド赤外線用の最初の既製の高解像度波面センサーです。IR光学系、黒体光源、3.39 µmまたは10.6 µmのレーザービーム、およびシステムの特性評価に最適です。

 

SID4-LWIR　赤外用の高解像度波面センサー

スペクトル範囲 LWIR（8-14μm）
光学計測　レーザー測定
SID4-LWIRは、CO₂またはOPOレーザービーム計測用の長波赤外線領域（8μmから14μm）に高解像度の波面センシングをもたらし、熱画像、セキュリティ、安全ビジョンで使用されるIRコンポーネントとレンズの特性評価を行います。

 

SID4-sC8　sCMOSベースの定量的位相イメージング　カメラ
スペクトル範囲 VIS（400-750 nm）NIR（750-1100 nm）
材料検査　定量的位相イメージング
ライフサイエンスおよび材料検査の定量的位相イメージングアプリケーション向けに設計されたSID4-sC8は、コンパクトなプラグアンドプレイソリューションで、高速、正確、かつ真に定量的な位相測定を実現します。生物学者はラベルフリーの細胞イメージング、高感度、自動セグメンテーションの恩恵を受け、材料科学者は正確な屈折率測定、レーザー損傷分析、表面特性評価を利用できます。