オプティカニクス総合取扱製品
opticanics.com

PLX Inc.

PLXマイケルソン干渉計とレトロリフレクター機器は恒久的に位置合わせされているため、調整する必要はなく、無期限に使用できます。それらは、優れた光学的安定性と卓越した耐衝撃性および耐振動性を提供します。
マイケルソン干渉計および反射器機器

頑丈な構造と恒久的な位置合わせにより、PLXモノリシック干渉計は最も要求の厳しいFTIRアナライザーアプリケーションに適しています。
PLXのモノリシック光学構造テクノロジー™  （MOST™）

INT05-NØ0.50” NIRモノリシック　マイケルソン干渉計

◎NIR FTIR分光計の主要な光学部品、口径12.7mm
◎動作範囲2940-7700cm ^-1
◎吸湿性の材料はありません。
◎モノリシックで位置合わせのない構造。いかなる調整もありません。
◎マルチパートの機械設計でコスト競争力があります。
◎LPR-05ロープロファイル レトロリフレクターによって制御されるOPD ：別途注文してください。
◎直交波長板アセンブリは別売りです。
◎カスタマイズ可能

ビームスプリッターのスペクトル曲線

マイケルソン干渉計：

 NIR干渉計INT05
 中赤外線干渉計INT10

関連商品：

 ロープロファイルレトロリフレクター

 

ユニットは恒久的に位置合わせされ、モノリシックアセンブリ内のビームスプリッター補償器によって互いに画像化された2つのアームミラーと融合されます。PLXのモノリシック光学構造テクノロジーTM（MOST TM）を使用します。

ユニットは非常に頑丈で、調整の必要はありません。移動する再帰反射器を片方のアームに追加して干渉計を完成させ、OPDがゼロ付近の光路差の変動を可能にします。頑丈な構造と恒久的な位置合わせにより、INT05シリーズNIR干渉計は最も要求の厳しいNIRアナライザーアプリケーションに適しています。

INT05-N US PAT. 9013814 and Additional Patents Pending Internationally

 

カタログ　ダウンロード　PDF

1継続的な製品改善プログラムにより、仕様は予告なく変更される場合があります。

上記で必要なものが見つからない場合： カスタム見積もりについては、お問合せください。