オプティカニクス総合取扱製品
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Phasics
Kaleo MultiWAVE
ラージオプティクス波面収差測定
多波長、高精度干渉計
UV、可視およびIRバージョンが利用可能
1つの機器で最大8波長
MTFと透過/反射波面エラーを1つのショットで利用可能（TWE / RWE）
直接の大きな収差測定のための高ダイナミックレンジ
いくつかの干渉計の購入に代わる費用対効果の高い選択肢


 

Kaleo MultiWAVE　多色干渉計| 固有干渉計| いくつかの波長での波面誤差

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Kaleo-MultiWAVEベンチは、複数の波長で波面エラーを遂行させるユニークな機器です。レンズ、フィルター、ミラーなどの光学部品は、使用波長で特性評価できます。KaleoMultiWAVEはさまざまな波長で動作し、コーティングの動作波長で光学系とコーティングの認定を行います。

KaleoMultiWAVEベンチは、いくつかの干渉計を購入するのに有利な代替手段であり、システムは干渉測定に匹敵する測定精度を提供します。

このベンチは、干渉計と同様の優れた精度と、大口径の竿津に非常に優れたダイナミクスを提供します。

測定は、透過または反射のいずれかのダブルパスで行われます。

 

ポリクロマティック干渉計
同じベンチで複数の波長

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標準：625nm – 780nm – 1050nm
オンデマンドのカスタム波長：UV – 400-1100nm – SWIR
 

高ダイナミックレンジ
20μmを超えるPV

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大径での10 µm PVダイナミクス
高収差の波面測定

 

高精度
干渉計レベル

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干渉計と同等の精度
非常に高い再現性
非常に低いノイズ

 

用途

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表面測定
コーティング（AR、誘電体、金属）
干渉フィルター
 

市場

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光学メーカー
フィルターメーカー
宇宙と防衛
自動車

 

コンプライアンス

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ISO 5725規格に準拠
MetroProフォーマット互換
ISO 10110形式が利用可能

 

仕様

干渉計と同様の結果



NBP-780フィルター–同じ瞳孔での2つの測定間のRWEの差は40 nm PV未満です